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仪表网供应网 实验仪器 试验箱 冷热冲击试验箱TSL-商洛线性三箱高低温冲击试验箱

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  • 产地
  • 所在地
  • 东莞
  • 陕西商洛市

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更新时间:2019-09-04

有效日期:还剩134

产品详情

商洛线性三箱高低温冲击试验箱产品用途
适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等,同时通过此装备试验,可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。
技术参数
内部尺寸:40×50×40  WxHxD(cm)
外部尺寸: 148X190X155 WxHxD(cm)
执行满足标准及试验方法: GJB150.5 温度冲击试验;GJB360.7温度冲击试验;GB/2423.22 温度冲击试验温度范围(150℃~A:-45℃;B:-55℃;C:-65℃)
高温区 :+60℃~+150℃;
低温区:-10℃~-65℃;
升温时间(蓄热区)RT~200℃约需35min
降温时间(蓄冷区)RT~-70℃约需85min
温度回复时间/转换时间≤5min内/ ≤10sec内
温度控制精度/分布精度±0.5℃/ ±2.0℃
商洛线性三箱高低温冲击试验箱箱体结构特点
全部功能采用计算机控制,系自主开发的软件,有良好的操作界面,使用户的操作和监测都更加简单和直观,保持功能可以使你正在运行的程序保持在目前的状态下,可以临时更改此程序段的数值,可以在屏幕上设置时间的参数,使制冷、加热、提蓝传送切换,按设定值自动进行。
冷箱、热箱独立控制,箱门互相独立,扩大试验箱的使用范围(一箱三用)。
产品保温效果可以得到充分保证。
试验箱门与循环风机,提蓝传动等互锁,保护操作者的安全,一旦打开箱门,循环风机和提蓝传动的电源会被自动切断。
控制系统:
低温区、高温区转换时间小于等于15秒。
温度恢复时间小于等于5分钟。

*冷热冲击试验箱 Hot And Cold Shock Test Chamber设备特点
规格系列齐全 –提篮式、三厢式、水平移动三种冲击模式可供用户选择,充分满足不同用户的各种要求;
设备还可提供标准高低温试验功能,实现了温度冲击和高低温试验的共同兼容;
高强度、高可靠性的结构设计- 确保了设备的高可靠性;
工作室材料为SUS304不锈钢 - 抗腐蚀、冷热疲劳功能强,使用寿命长;
高密度聚氨酯发泡绝热材料- 确保将热量散失减到*小;
表面喷塑处理- 保证设备的持久防腐功能和外观寿命;
高强度耐温硅橡胶密封条 – 确保了设备大门的高密封性;
多种可选功能(测试孔、记录仪、测试电缆等)保证了用户多种功能和测试的需要;
大面积电热防霜观察窗、内藏式照明 –可以提供良好的观察效果;
环保型制冷剂 –确保设备更加符合您的环境保护要求;

*冷热冲击试验箱 Hot And Cold Shock Test Chamber可根据用户要求定制尺寸/定制使用指标/定制各种选配功能

*温度控制
可实现温度定值控制和程序控制;
全程数据记录仪(可选功能)可以实现试验过程的全程记录和追溯;
每台电机均配置过流(过热)保护/加热器设置短路保护,确保了设备运行期间的风量及加热的高可靠性;
USB接口、以太网通讯功能,使得设备的通讯和软件扩展功能满足客户的多种需要;
采用流行的制冷控制模式,可以0%~100%自动调节压缩机制冷功率,较传统的加热平衡控温模式耗能减少30%;
制冷及电控关键配件均采用知名品牌产品,使设备的整体质量得到了提升和保证;

*冷热冲击试验箱 Hot And Cold Shock Test Chamber设备满足以下标准
GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验A:低温
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验B:高温
GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则
GJB 150.3A-2009 装备实验室环境试验方法 第3部分:高温试验
GJB 150.4A-2009 装备实验室环境试验方法 第4部分:低温试验
GJB 150.5A-2009 装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验
GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验

 

 

TSL-80-3C

TSU-80-3C

TSS-80-3C

TSL-150-3C

TSU-150-3C

TSS-150-3C

TSL-225-3C

TSU-225-3C

TSS-225-3C

TSL-408-3V

TSU-408-3C

TSS-408-3C

标称内容积(升)

80

150

200

300

试验方式

气动风门切换2温室或3温室方式

性能

高温室

预热温度范围

60~+200

升温速率※1

60→+200℃≤20分钟

低温室

预冷温度范围

-78-0

降温速率※1

20→-75℃≤80分钟

试验室

温度偏差

±2

温度范围

TSL:(+60+125→(-40--10);

TSU:+60~+150)-55~-10);

TSS:+60~+150)-65~-10)

温度恢复时间※2

5分钟以内

试样搁架承载能力

30kg

试样重量

7.5kg

7.5kg

10kg

10kg

内部尺寸(mm)

W

500

600

750

850

H

400

500

500

600

D

400

500

600

800

外形尺寸(mm)4

W

1460

1560

1710

1880

H

1840

1940

1940

2040

D

1500

1600

1700

1900

1温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能。

2恢复条件:室温为+25℃和循环水温为+25℃,试样是塑料封装集成电路。(均布)

 

 

TSL-80-3C

TSU-80-3C

TSS-80-3C

TSL-150-3C

TSU-150-3C

TSS-150-3C

TSL-225-3C

TSU-225-3C

TSS-225-3C

TSL-408-3V

TSU-408-3C

TSS-408-3C

标称内容积(升)

80

150

200

300

试验方式

气动风门切换2温室或3温室方式

性能

高温室

预热温度范围

60~+200

升温速率※1

60→+200℃≤20分钟

低温室

预冷温度范围

-78-0

降温速率※1

20→-75℃≤80分钟

试验室

温度偏差

±2

温度范围

TSL:(+60+125→(-40--10);

TSU:+60~+150)-55~-10);

TSS:+60~+150)-65~-10)

温度恢复时间※2

5分钟以内

试样搁架承载能力

30kg

试样重量

7.5kg

7.5kg

10kg

10kg

内部尺寸(mm)

W

500

600

750

850

H

400

500

500

600

D

400

500

600

800

外形尺寸(mm)4

W

1460

1560

1710

1880

H

1840

1940

1940

2040

D

1500

1600

1700

1900

1温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能。

2恢复条件:室温为+25℃和循环水温为+25℃,试样是塑料封装集成电路。(均布)


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